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HCS-霍爾效應測量儀
HCS - 霍爾效應測量儀
適用于半導體及元件的特性表征
如果將一個載流半導體置于磁場中,就可以觀察到所謂的霍爾效應。霍爾效應測量儀正是用于半導體材料的載流子濃度、遷移率、霍爾系數等重要參數,這些參數是了解半導體材料電學特性需要預先掌握的,因此霍爾效應測量儀是理解和研究半導體器件和半導體材料電學特性不可或缺的工具。林賽斯的霍爾效應測量儀,是基于范德堡方法原理設計出的自動化測試儀器,可以測試導電薄膜樣品的電阻率、電導率、霍爾系數、遷移率、載流子濃度和磁致電阻等參數,具有操作方便快捷,測量準確等優點。
測量特性
  • 載流子濃度
  • 電阻
  • 電阻率
  • 遷移率
  • 電導率
  • 霍爾系數
  • 磁致電阻
基本功能
  • 載流子濃度、電阻、霍爾系數等特性參數的測量
  • 可選配塞貝克支架,測試薄樣品的塞貝克系數
軟件

林賽斯的所有熱分析儀器均采用軟件控制。各個軟件模塊需在 Microsoft Windows 操作系統下運行。


整個軟件由溫度控制、數據采集和數據評估三個模塊組成。Windows 軟件集成了測量準備、實施和評估的熱分析測量的所有基本功能。


經過我們技術專家和應用專家的不斷努力,林賽斯開發出了全面的、易于理解的、易于使用的應用程序軟件。

  • 常規功能

    NIST 校準程序:用于優化測量設置,獲取高精度結果

    擴展連接測試

    支持外部電子設備集成

    可選數據庫存儲

    可選鎖相放大器集成

    自動傳感器檢測(EEPROM)

    自動數據分析

    全自動冷卻控制

    在線訪問自定義數據(根據具體版本而定)

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