在 -150 °C 至 1750 °C 測量樣品的膨脹變化量、平均膨脹系數、膨脹百分比、玻璃轉化點、軟化點、燒結等。
符合 ASTM D696、ASTM E228、ASTM E831、ASTM E1363、ASTM E1545、ASTM E1824 和 DIN 53752 標準。
在 -150 °C 至 1550 °C 測量樣品的熔點、相變、結晶、熱焓、玻璃轉化點、失重、比熱容等。
符合 ASTM C351、ASTM D3417、ASTM D3895、ASTM D4565、ASTM E793、ASTM E794、DIN 51004、DIN 51007、DIN 53765、DIN 65467、DIN EN 728、ISO 10837、ISO 11357、ISO 11409 標準。
在 RT 至 1550 °C 之間測量燃燒殘留物的質量變化。
符合 ASTM E914、ASTM E1131、ASTM E1868、DIN 51006、ISO 7111 和 ISO 11358 標準。
同時測量 TG 和 DSC 信號，以確定樣品 RT 至 1550 °C 之間的質量變化和熱效應
符合 ASTM E914、ASTM E1131、ASTM E1868、DIN 51006、ISO 7111 和 ISO 11358 標準。
在 RT 至 1500 °C 之間測量樣品的熱擴散系數、導熱系數、比熱容 Cp
符合 ASTM E1461、DIN 30905 和 DIN EN 821 標準。
在 RT 至 150 °C 之間測量樣品的導熱系數、熱擴散系數、比熱容 Cp 。
在 RT 至 150 °C 之間測量樣品的導熱系數、熱阻和接觸熱阻。
符合 ASTM D5470 標準。
在 5 °C 至 80 °C 之間測量絕緣材料和隔熱材料的導熱系數和熱阻（U 值）。
符合 ASTM C518、JIS A 1412、ISO 8301 和 DIN 12667 標準。
在 RT 至 1100 °C 范圍內測量樣品的塞貝克系數、電導率 / 電阻率。
符合 JIS R 1650-1 標準。
在 -150 °C 至 200 °C 之間測量樣品電導率 / 電阻率、電荷載流子濃度、遷移率、霍爾系數、塞貝克系數。
根據 ASTM F76-08 標準。
在 -160 °C 至 +280 °C 之間測量薄膜和涂層的熱導率、比熱容、電導率、塞貝克系數和霍爾系數等。
在 RT 至 500 °C 測量薄層和涂層的熱擴散系數和導熱系數。
